
NDT檢測系統(tǒng)的可靠性評估工具
STATUS 5測量檢查系統(tǒng)的可靠性,以根據(jù)導入數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析檢測指定的缺陷測量。用戶友好的軟件是一種必不可少的NDT工具,用于生成檢測概率(POD)曲線、優(yōu)化圖和匯總表,專為具有有限統(tǒng)計知識的技術人員量身定制。
在直觀的用戶友好界面的驅(qū)動下,Status 5使用â對比a,Logit,Probit,LogLog,CLogLog和Nordtest模型的統(tǒng)計分析方法,立即生成可視化數(shù)據(jù)作為POD曲線。
用戶可以使用噪聲研究和閾值優(yōu)化工具,以最少的統(tǒng)計知識優(yōu)化輸入并補償系統(tǒng)噪聲。Status 5還包括測量精度和優(yōu)化工具,用于計算缺陷標準能力并提供幫助。
概述
•STATUS 5是一種方便的NDT工具,用于評估NDT技術的效率和可靠性以及評估操作員的績效。
•軟件基于用戶導入的數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析,為所有NDE系統(tǒng)生成檢測概率(POD)曲線。
•STATUS 5的Sizing Accuracy研究通過比較破壞性測試后報告的實際缺陷測量與用戶的缺陷測量確定能力,協(xié)助用戶的NDT技術。
• Sizing Optimization工具提供指導,以優(yōu)化從采集系統(tǒng)實施的校準曲線,并根據(jù)您的規(guī)格提高測量精度。
•可用于生成POD曲線的五種統(tǒng)計模型,包括使用運營商導入數(shù)據(jù),基于最有效POD曲線的自動模型推薦。
•數(shù)據(jù)視圖,圖表視圖和拆分視圖可用。
•檢驗數(shù)據(jù)和實際測試數(shù)據(jù)列顯示缺陷的長度,深度和高度。
•數(shù)據(jù)過濾功能。
•列中顯示的缺陷ID,側面,區(qū)域和類型信息。
•推薦標簽和研究列表
優(yōu)點
主要優(yōu)點
•用戶友好的界面,高度可視化的演示。
•便于快速導入/導出Excel文檔或手動輸入數(shù)據(jù)。
•快速直觀地使用,提供廣泛的幫助和指導,為操作員量身定制,具有最小的數(shù)學背景和統(tǒng)計知識。
•可用于POD曲線生成的五種統(tǒng)計模型(â與log,Logit,Probit,LogLog,CLogLog),包括使用運營商導入數(shù)據(jù)基于最有效POD曲線的自動模型推薦。
•噪聲研究和閾值優(yōu)化工具可根據(jù)檢測系統(tǒng)屬性有效調(diào)整POD模型輸入。
檢測概率
â與POD對比
•關于閾值和飽和幅度的缺陷大小和振幅。
•可以根據(jù)缺陷長度,高度和深度生成單獨的POD曲線。
•笛卡爾坐標圖和對數(shù)坐標圖上均可使用POD和置信度曲線。
•圖表中的垂直線指定了關鍵缺陷大小,并在摘要表中列出。
Hit / Miss(命中/錯過)POD
•根據(jù)命中(1,綠點)和錯過(0,藍點)數(shù)據(jù)生成POD曲線。
•可以根據(jù)缺陷的長度,高度和深度生成單獨的POD曲線。
•笛卡爾坐標圖和對數(shù)坐標圖上均可使用POD和置信度曲線。
•嚴重缺陷大小由垂直線繪制,并在摘要表中列出。
POD模型推薦
•對12種設置中使用的所有5種模型(â與a,Logit,Probit,LogLog,CLogLog)進行即時分析和比較。
•根據(jù)AIC值自動推薦最有效的POD模型。
•使用BIC值評估所有POD模型的數(shù)據(jù)擬合質(zhì)量。
•只需單擊按鈕,即可將用戶定向到具有優(yōu)化參數(shù)的推薦模型。
NORDTEST
Nordtestâ與POD和Hit / Miss PODs相比
•導入的數(shù)據(jù)可以在選定的箱數(shù)中分組,以生成POD曲線。
•用戶可以選擇5到15個箱。
•笛卡爾坐標圖和對數(shù)坐標圖上均可使用POD和置信度曲線。
•圖表中的垂直線指定了關鍵缺陷測量,并在摘要表中列出。
POD優(yōu)化工具
噪音研究
•可以將儀器的噪聲數(shù)據(jù)導入軟件。
•噪聲統(tǒng)計分布與正態(tài)分布,weibull分布和對數(shù)正態(tài)分布進行比較。
•根據(jù)噪聲統(tǒng)計分布計算不同閾值的False Call概率。
•圖表中的垂直線指定了嚴重缺陷測量。
閾值優(yōu)化
•可以圖形化分析閾值對POD曲線形狀的影響。
•可以使用各種顏色繪制由不同閾值生成的POD曲線,從而在同一圖表上提供清晰的比較。
•在單獨的圖中分析閾值對臨界缺陷測量值的影響。
調(diào)整評估工具
測量尺寸精度
•將測量的缺陷尺寸與實際測量尺寸進行比較,以確定測量精度。
•測量回歸擬合將估計的缺陷測量尺寸與理想的實際缺陷測量尺寸進行比較。
•提供測量散點圖以比較實際缺陷的尺寸與測量的缺陷尺寸散布。
•調(diào)整回歸和散點圖結果總結在包含關鍵信息的表中。
測量尺寸優(yōu)化
•建議比較線性、多項式和功率擬合的最佳校準曲線擬合公式。
•計算儀器中用于確定測量的最佳校準曲線。
•最佳校準曲線使用導致缺陷測量尺寸與實際測量尺寸更緊密地匹配。
•提供最佳校準曲線公式和儀器數(shù)據(jù)導入表。

京ICP備09015132號-996 | 違法和不良信息舉報電話:4006561155
© Copyright 2000-2026 北京哲想軟件有限公司版權所有 | 地址:北京市海淀區(qū)西三環(huán)北路50號豪柏大廈C2座11層1105室
北京哲想軟件集團旗下網(wǎng)站:哲想軟件 | 哲想動畫